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性能評価試験項目

 受験申請資格(4)装置の精度管理

    −装置の精度管理に関する性能評価試験項目−

1.均一ファントムによるS/N比測定試験

1)標準的なNEMA法で測定する。

2)ファントム径:使用コイルに適合する大きさ、スライス厚:3〜8mm、スライス枚数:1

3)撮像条件(目安)  

○Spin echo法 

 撮像パラメータ:TR;800ms、TE;14〜20ms、matrix;256x256、

○Gradient echo法:TR;150ms、TE;4〜8ms、matrix;256x256、

*Parallel imagingは使用しない!

4)測定したROIの大きさと測定結果の基になった数値と計算式を記載する。また、その数値が何を表しているのかも示す。

5)差分(subtraction)ができない装置は簡易法を用いても構わない。

[参考]

○日本放射線技術学会誌第59巻第4号pp508-513

○National Electric Manufacturers Association:Determination of signal-noise ratio in diagnostic magnetic resonance images,NEMA Standard Publication,MS1(1988)

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2.均一性試験

1)標準的なNEMA法で測定する。

2)頭部を想定した場合と腹部を想定した場合で、2種類の大きさのファントムを使う。

3)測定方法を図示し、評価結果を求めるための数値を図中に直接書き込む。

4)測定結果を求める計算式を添えて、評価結果を表示する。

[参考]

○オーム社「MR撮像技術学」pp268-269

○National Electric Manufacturers Association:Determination of image uniformity in diagnostic magnetic resonance images,NEMA Standard Publication,MS3(1989)

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3.スライス厚測定試験

1)2枚の楔型三角錐が交叉したスライス厚測定用ファントムの使用が望ましい。

2)撮影条件は通常のspin echo法を用い、スライス厚は4〜8mmとする。

3)測定に際しコンピュータソフトを使用してもいいが、結果は正方眼紙1枚に測定方法とともに、得た数値の根拠となる計算式を表示する。

4)楔形三角錐がひとつしかない場合や、当該ファントムを持ち合わせていない場合は、ファントムを作成もしくは独自な方法で求めてもよい。独自な方法を用いる場合は、信頼度を記す。。

[参考]

○日本放射線技術学会編 臨床放射線技術実験ハンドブック(上)pp468−472

○National Electric Manufacturers Association:Determination of slice thickness in diagnostic magnetic resonance images,NEMA Standard Publication,MS5(1991)

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4.T1値,T2値測定試験

1)適当な溶液(例:ガドリニウム希釈溶液など)を作成して測定対象物質を作成する。

2)装置に組み込まれた簡易法によらず複数の信号強度点から求める。

3)T1値T2値を求めるための根拠となった片対数グラフとそのグラフからの読み取り値からT1値T2値を求めるための数値と計算式を示す。

※ 片対数グラフの取扱と、グラフの傾きを測定する場所に注意する。

[参考]

○オーム社「MR撮像技術学」pp274-276

○核磁気共鳴医学会編:NMR医学,pp42-45,丸善株式会社

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−装置性能評価試験の提出時の注意−

(1)上記4項目について、実際の装置で測定したデータ,結果,考察をレポート形式で提出する。

(2)他の認定試験受験申請書類に同封して送る

(3)それぞれA4サイズの用紙1枚ずつに計算結果ならびに模式図を書く。

(4)ただし、項目3は正方眼紙が1枚、項目4は片対数グラフ用紙2枚と計算用A4版用紙1枚となり、合計6枚をホッチキスでひと綴りとして提出する。最初のページの最上段に、施設名、氏名、使用装置名(メーカー名も)を記載する。

(5)それぞれの試験において、撮像条件を明記する。また、項目1と2では、使用したファントムの内容液も明記する。

(6)同一施設で複数名申請する場合は、項目1:スキャンするスライス厚を変える。項目2:撮像条件を変える。項目3:スライス厚を変える。項目4:対象とする試料の溶液濃度を変える。などの対策を行って同じデータを使用しない。

(7)結果、考察などは簡潔に記載してください。

(8)記載方法ならびに評価試験の内容についての質問には一切答えられません。

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−装置性能評価試験の審査基準−

(1)測定法を理解しているか。

(2)正しい測定法が実施されているか。

(3)評価結果の根拠となるデータがもれなく記載されているか。

(4)結果を得るためのグラフが正しく書かれているか。

(5)評価を求めるための計算式が正しく記載されているか。

(6)ファントムの形状ならびに測定結果は審査の対象になりません。

(7)評価試験に不備があった場合には、認定試験を受験することができません。

  その際には、申請書類をお返しいたしますので、次年度申請時に参考にして下さい。

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